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Der "Focussed Ion Beam", zu Deutsch: fokussierter Ionenstrahl, ähnelt dem Rasterelektronenmikroskop, kann jedoch im Gegensatz dazu auch zur Bearbeitung des Untersuchungsgegenstandes im Micro- und Nanometerbereich benützt werden.
Mehr Bilder vom Haar-Logo findest du in der Infobox!
Statt der Elektroden werden hier Ionen - meist Gallium - auf die fragliche Stelle gelenkt, dabei treten Elektronen aus der Oberfläche aus. Diese Ergebnisse werden gesammelt und ergeben so ein Bild der Probe. Mit Gallium hat das Team rund um Professor Ray LaPierre auch das Muster in die Haare "geschossen". Wenn sie nicht gerade damit beschäftigt sind, Kopfschmuck zu verschönern, bearbeiten die Wissenschaftler übrigens Bauteile im Nanobereich.
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